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簡要描述：透射電鏡雙傾探針電學原位系統(tǒng)通過納米探針對樣品施加電場控制，結(jié)合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現(xiàn)從納米層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨電場變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構、相變、元素價態(tài)、微觀應力以及表/界面處的結(jié)構和成分演化等關鍵信息。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2023-12-27訪 問 量： 2679產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
納米探針操縱系統(tǒng)
1．高精度壓電陶瓷驅(qū)動，納米級別精度數(shù)字化精確定位。
2．可對單個納米結(jié)構進行操縱和電學測量。
優(yōu)異的電學性能
特殊設計保證電學測量的低噪音和精確性，電流測量精度可達皮安級。
智能化軟件
1．人機分離，軟件遠程調(diào)節(jié)電學條件，程序自動化控制傾轉(zhuǎn)角度。
2．全程自動記錄實驗細節(jié)數(shù)據(jù)，便于總結(jié)與回顧。
| 類別 | 項目 | 參數(shù) |
| 基本參數(shù) | 桿體材質(zhì) | 高強度鈦合金 |
| 控制方式 | 高精度壓電陶瓷 | |
| 傾轉(zhuǎn)角 | α≥±20°，β≥±20°（實際范圍取決于透射電鏡和極靴型號） | |
| 適用電鏡 | Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi | |
| 適用極靴 | ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP | |
| (HR)TEM/STEM | 支持 | |
| (HR)EDS/EELS/SAED | 支持 |
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